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實現微小區域、曲面和超薄樣品高精度測量的反射率測量裝置MSP-100介紹

  • 發布日期:2024-06-05      瀏覽次數:196
    • 實現微小區域、曲面和超薄樣品高精度測量的反射率測量裝置MSP-100介紹

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      • 通過使用特殊的半反射鏡,可以減少背面反射光,無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
        (可測量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時)

      • 還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(φ50μm))

      • 即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量,并且具有高重復性。(光學設計捕獲最大量的光,512元件線性PDA,
        內置16位A/D轉換器,USB 2.0接口高速計算實現快速測量。)

      • 可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據光譜反射率來測量物體。

      • 數據可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

      • 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

      • 具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。輕松比較測量結果。

      規格

      型號MSP-100
      測量波長380~1050nm
      測量重復性±0.2%(380-450nm)
      ±0.02%(451-950nm)
      ±0.2%(951-1050nm)
      樣品面 NANA 0.12(使用 10 倍物鏡時)
      樣品測量范圍φ50μm(使用10倍物鏡時)
      樣品曲率半徑-1R~-無窮大, +1R~無窮大
      顯示分辨率1納米
      測量時間幾秒到十幾秒(取決于采樣時間)
      外形尺寸(寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機身)
      工作溫度限制18~28℃
      工作濕度60%以下(無凝露)


    聯系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流