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軟膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測厚儀TOF-C2

  • 發(fā)布日期:2021-09-26      瀏覽次數(shù):1066
    • 軟膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測厚儀TOF-C2

      模型TOF-C2 * TOF-C的后繼機(jī)型
      測量方法非接觸式/電容式
      測量對(duì)象薄膜、粘性保護(hù)膜、易沾灰塵的薄膜
      測量原理電容式
      產(chǎn)品特點(diǎn)
      • 高測量分辨率

      • 由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。

      • 即使表面狀況粗糙,也可以進(jìn)行測量。

      • 基重測量

      • 操作簡單(具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能)

      產(chǎn)品規(guī)格
      測量厚度~ 500 微米
      測量長度10 至 10000 毫米
      測量間距1 毫米 ~
      小顯示值0.01微米
      電源電壓AC100V 50 / 60Hz
      工作溫度限制5-40°C(測量時(shí)溫度變化1°C以內(nèi))
      濕度35-80%(無冷凝)


    聯(lián)系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流