可檢測單粒大米的設備儀器

發布日期：2021-03-12      瀏覽次數：852

可檢測單粒大米的設備儀器

大米水分計-日本Kett實驗大米單粒水分計PQ-520

 

• 通過測量每種谷物來掌握整個水分配
• 將分布顯示為直方圖

主要規格

測量方法	電阻類型
測量對象	精米，糙米，大米，大麥，小麥，大麥
測量范圍	碾米/糙米：11-20％，大米：11-35％， 大麥/小麥：10-40％，大麥：10-35％
測量精度	±0.5％（水分20％以下）
測量時間	40秒以內/ 100谷（糙米的測定，平均水分的顯示時間）
顯示方式	熒光顯像管
顯示內容	所選谷物，平均水分值，谷物數量，時間，水分分布 （直方圖）
溫度校正	帶熱敏電阻的自動溫度補償（機器溫度補償）
設定粒數	10至1000粒（任意設定）
工作溫度和濕度范圍	5-40℃，相對濕度85％以下（無凝露）
外部輸出	RS-232C（用于打印機），USB（用于PC）
電源供應	AC100V（50 / 60Hz）
尺寸/質量	320（W）x 254（D）x 382（H）毫米，9.0公斤
選項	打印機VZ-380，數據記錄器軟件“ PDL-01”

稻谷實驗礱谷機-日本大竹OTAKE實驗礱谷機FC2R

 

實驗精米機-日本山本實驗精米機VP-32

 

大米白度計-日本Kett大米白度計C-600

 

大米外觀品質檢測儀-日本Kett大米單粒品質檢測儀RN-700

篩選區分內容
糙米 21 區分：整粒、裂紋粒、劃痕粒、乳白、心白、青色未成熟、 基
部未成熟、腹白、其他未成熟、青死米、白死米、全部染色、部分染
色、紅米、發芽粒、芽腐爛粒、畸形、蟲害、病害、碎粒、茶色米
精米 6 區分：正常粒、粉質粒、碎粒、受損粒、龜裂粒、異種谷粒（糯
米）

大米食味值檢測儀-日本Kett大米成分分析儀AN-920/AN-820