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適合低通濾光片和藍色濾光片晶體板紋理不均檢查技術介紹

  • 發布日期:2024-05-27      瀏覽次數:244
    • 適合低通濾光片和藍色濾光片晶體板紋理不均檢查技術介紹

      用監視器目視觀察光學元件的光學不均勻性的裝置。

      該檢查裝置是將水晶板、玻璃等透明物體內部的條紋、表面的拋光不均、拋光痕跡可視化的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍色濾光片的晶體板。

      觀察到的圖像背景中有微弱的斑駁圖案。這是由于安裝的鏡頭等光學元件的表面拋光造成的,會妨礙觀察。專用軟件“ClearBack"使背景清晰,檢查更輕松。有一種稱為紋影法的觀察方法可以可視化折射率的變化,但該裝置的觀察方法是陰影圖法。這可以防止由于刀口處發生干擾而導致圖像變得模糊。


      image.png


      檢查方法陰影圖法,顧名思義,就是“陰影圖"。從點光源發出的光被一個透鏡轉換成平行光,然后被下一個透鏡會聚以拍照。如果將有條紋等缺陷的樣品放置在兩個透鏡之間,平行光就會受到干擾,導致圖像中出現亮度不均勻的區域。
      觀察范圍約φ45mm
      光源高亮度藍光LED
      測量波長450-465nm
      有效像素1080(水平)×824(垂直)
      調光功能音量調暗
      外形尺寸(主體)水平(標準)W1030 x D160 x H205mm
      垂直(可選)W380 x D455 x H1245mm
      體重(身體)29公斤
      作品主機/PC/電纜
      配件樣品架/機身蓋
      選項立式支架(重量:10kg)
      使用環境攝氏度10~35度濕度20~80%(無凝結)
      顯示器最大分辨率1920 x 1200(24 英寸寬)
      操作系統Windows 10(64位)
      軟件專用軟件“ClearBack" 圖像亮度不均勻校正使背景均勻,更容易確認缺陷。


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