反射率測量裝置MSP-100在光學(xué)薄膜上的運用
光學(xué)薄膜的光學(xué)性質(zhì)和功能是通過干涉作用改變光在光學(xué)元件表面的特性,獲得所需要的反射率或者透過率。
“測試方法"是光學(xué)薄膜制備中極為重要的一環(huán),它的評價和反饋機制保證了產(chǎn)品的最終光學(xué)性能,其中最為基本和關(guān)鍵的是反射率和透過率測試。本期主要為大家介紹光學(xué)薄膜的反射率測試。
以未有的低成本實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量
通過使用特殊的半反射鏡,可以切斷背面反射的光,無需背面處理即可在短時間內(nèi)進行精確測量。
(可測量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時)
還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(φ50μm))
即使是低反射率的樣品也可以在短時間內(nèi)進行測量,并且具有高重復(fù)性。(光學(xué)設(shè)計捕獲最大量的光,并通過512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口實現(xiàn)高速計算實現(xiàn)快速測量。)
可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來測量物體。
數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。
具有在同一屏幕上顯示多個測量結(jié)果的功能。輕松比較測量結(jié)果。
型號 | MSP-100 |
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測量波長 | 380~1050nm |
測量重復(fù)性 | ±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm) |
樣品面 NA | NA 0.12(使用 10 倍物鏡時) |
樣品測量范圍 | φ50μm(使用10倍物鏡時) |
樣品曲率半徑 | -1R~-無窮大, +1R~無窮大 |
顯示分辨率 | 1納米 |
測量時間 | 幾秒到十幾秒(取決于采樣時間) |
外形尺寸 | (寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機身) |
工作溫度限制 | 18~28℃ |
工作濕度 | 60%以下(無凝露) |