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反射率測量裝置MSP-100在光學(xué)薄膜上的運用

  • 發(fā)布日期:2024-04-01      瀏覽次數(shù):281
    • 反射率測量裝置MSP-100在光學(xué)薄膜上的運用

      光學(xué)薄膜的光學(xué)性質(zhì)和功能是通過干涉作用改變光在光學(xué)元件表面的特性,獲得所需要的反射率或者透過率。

      “測試方法"是光學(xué)薄膜制備中極為重要的一環(huán),它的評價和反饋機制保證了產(chǎn)品的最終光學(xué)性能,其中最為基本和關(guān)鍵的是反射率和透過率測試。本期主要為大家介紹光學(xué)薄膜的反射率測試。

      反射率測量裝置MSP-100

      以未有的低成本實現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量

      image.png

      • 通過使用特殊的半反射鏡,可以切斷背面反射的光,無需背面處理即可在短時間內(nèi)進行精確測量。
        (可測量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時)

      • 還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(φ50μm))

      • 即使是低反射率的樣品也可以在短時間內(nèi)進行測量,并且具有高重復(fù)性。(光學(xué)設(shè)計捕獲最大量的光,并通過512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口實現(xiàn)高速計算實現(xiàn)快速測量。)

      • 可以進行色度測量和L*a*b*測量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來測量物體。

      • 數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

      • 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。

      • 具有在同一屏幕上顯示多個測量結(jié)果的功能。輕松比較測量結(jié)果。

      規(guī)格

      型號MSP-100
      測量波長380~1050nm
      測量重復(fù)性±0.2%(380-450nm)
      ±0.02%(451-950nm)
      ±0.2%(951-1050nm)
      樣品面 NANA 0.12(使用 10 倍物鏡時)
      樣品測量范圍φ50μm(使用10倍物鏡時)
      樣品曲率半徑-1R~-無窮大, +1R~無窮大
      顯示分辨率1納米
      測量時間幾秒到十幾秒(取決于采樣時間)
      外形尺寸(寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機身)
      工作溫度限制18~28℃
      工作濕度60%以下(無凝露)



    聯(lián)系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流