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alnair labs硅片厚度測量儀的工作原理

  • 發布日期:2023-04-26      瀏覽次數:408
    • alnair labs硅片厚度測量儀的工作原理

      隨著近年來我國半導體相關產業的發展,產業相關的檢測需求日益增多。Precitec在半導體檢測領域深耕多年,在半導體非接觸式在線、離線檢測方面有多種多樣的應用,致力于幫助大家解決行業痛點,特別是高精度、高環境標準要求的檢測問題。

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      由于紅外光的波長相對于可見光的波長更長,在半透明體中具有更長的傳播距離,因此通常被應用于半透明薄膜、硅片、藍寶石的厚度檢測。特別是在硅片的研磨和拋光的工藝過程中,硅片的一側為磨盤,只有單側可以安裝檢測設備,因此該檢測方式常用于在線檢測設備當中。

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