fujifilm加熱和加壓過程中的壓力分布測量技術

發(fā)布日期：2023-03-21      瀏覽次數：496

fujifilm加熱和加壓過程中的壓力分布測量技術




高溫環(huán)境下的壓力分布和壓力/表面壓力測量膜高溫預標



在高溫環(huán)境中提供壓力測量膜。 您可以輕松檢查加熱和加壓過程中的壓力分布。

高溫預阻垢Prescale是一種可以輕松測量壓力和表面壓力的平衡，分布和大小的產品。

但是，當在具有正常預刻度的加熱環(huán)境中使用時，會出現諸如顯色和由于熱引起的基底變形等問題。 高溫預垢是一種減少這些影響的產品。



結構與原理

適用于高溫的預分頻結構

它由兩種類型的電影組成：A電影和C電影。 薄膜具有涂覆在載體（PEN基）上的成色劑（微膠囊），C薄膜具有涂覆在載體（PEN基）上的顯色劑。 顏色形成（微膠囊）表面和顯色劑表面一起使用。

顯色原理

顯色劑層的微膠囊被壓力破壞，其中的成色劑被吸附在顯影劑上，顯影劑由于化學反應而形成紅色。

預標特性

通過參考標準圖表表，可以直觀地確定壓力值。

預標中壓<MW>的圖像圖

下圖為預標中壓，因此與實際高溫預標產品不同。





• *虛線可能超過允許的誤差范圍，因此請參閱壓力值。

• * 根據所使用的加熱溫度，選擇并使用 A、B 和 C 曲線。

如何使用



1.從黑色，藍色聚乙烯袋中取出預刻度，并將其切割成所需的形狀。
 



2.對準A和C膜的成色劑和顯影劑表面，在測量點設置預刻度，C膜在下側，A膜在上側，并加壓。



3、取出薄膜，目視判斷壓力分布。