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如何進行微磁場測量?

  • 發(fā)布日期:2022-12-27      瀏覽次數(shù):882
    • 如何進行微磁場測量?

      要測量微小的磁場,重要的是要減小霍爾元件探頭和磁感應(yīng)部分之間的距離(理想情況下為 0)。
      該探頭元件的磁感應(yīng)部分絕緣,因此即使接觸到測量樣品也可以測量。此外,與傳統(tǒng)磁鐵 (70 μm2) 相比,磁感應(yīng)部分的面積小至 30 μm2(小于面積比的 1/5),從而可以測量超磁體的微小磁場分布多極磁鐵,很難測量。

      探頭具有極性(N 和 S),就像直流測試儀(+ 和 -)一樣,因此請注意探頭的測量表面。
      <F-1、FS-3、FS-4、FS-5 型探頭>將探頭
      的黃色標記面朝上,當要測量的物體(磁鐵等)被放置時,設(shè)置極性(N)處于圖中所示的狀態(tài)。顯示測量值。

       平型1-5

      <FS-6、FS-7、FS-8 型探頭(用于窄間隙)>
      在圖中所示的測量狀態(tài)下,測量顯示為極性(N)。本探頭用于插入間隙進行測量,不適用于端面磁場測量。

       平6-8型

      <A(軸向)型探頭>
      在圖中所示的測量狀態(tài)下,測量顯示為極性(N)。傳感器的位置距探頭表面0.2mm至0.6mm。 軸向型

      在測量多極磁場分布時,除非所用探頭的感磁部分面積小于磁極密度,否則無法正確評估和測量分布。這種微型磁敏傳感器可以更準確地測量磁場分布。為了從這種微小的磁敏傳感器獲得準確的磁量,請使用HGM-7100或HGM-7900 高斯計,它們降低了光學(xué)噪聲和感應(yīng)磁場噪聲。


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      HGM-7100型以8300型電路為基礎(chǔ),降低了接近測量樣品引起的光噪聲和感應(yīng)磁場噪聲,與微磁傳感器(我們的30μ型)的探頭兼容,是高精度測量。是一個模型 該高斯計也可與我們的傳統(tǒng)探頭一起使用。

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