亚洲AV无码乱码在线观看,不卡,国产精品毛片AV久久66,亚洲精华国产精华精华液好用,97超级碰碰碰免费公开在线观看

產品展示
PRODUCT DISPLAY
技術支持您現在的位置:首頁 > 技術支持 > densoku電解膜厚計的原理分析

densoku電解膜厚計的原理分析

  • 發布日期:2022-11-07      瀏覽次數:515
    • densoku各類膜厚計的原理

      鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測量的。(陽極電解電路見圖1。)在鍍膜結束時,由于測量部分被恒流溶解,膜金屬消失,當金屬出現時,陽極電壓發生變化,檢測到此電壓變化以結束測量。(見圖2)

      image.png

      電解膜測厚儀的特點

      • 雖然是破壞型測量,但可以通過簡單的測量進行測量,也可以測量多層鍍層。

      • 可測量雙鎳和三鎳各層的膜厚和電位差

      • 可以分別測量在銅上鍍錫時形成的純錫層和合金層的厚度。

      • 可測量 X 射線無法測量的厚多層鍍層(最大 300 μm)

      • 通過使用電線測試儀,可以測量細電線上的鍍膜厚度。

      使用示例

      • 鍍錫線(鍍錫銅線)純錫層厚度測量

      • 汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層
        測量,Ni鍍層用雙鎳/三鎳電位差測量

      • 對無損膜厚計的測量進行交叉檢查

      相關產品介紹

      image.png
      電解膜厚測試儀 GCT-311
      image.png
      電解膜測厚儀CT-6
      image.png
      電解膜測厚儀CT-3



    聯系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流