densoku各類膜厚計的原理
鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測量的。(陽極電解電路見圖1。)在鍍膜結束時,由于測量部分被恒流溶解,膜金屬消失,當金屬出現時,陽極電壓發生變化,檢測到此電壓變化以結束測量。(見圖2)
雖然是破壞型測量,但可以通過簡單的測量進行測量,也可以測量多層鍍層。
可測量雙鎳和三鎳各層的膜厚和電位差
可以分別測量在銅上鍍錫時形成的純錫層和合金層的厚度。
可測量 X 射線無法測量的厚多層鍍層(最大 300 μm)
通過使用電線測試儀,可以測量細電線上的鍍膜厚度。
鍍錫線(鍍錫銅線)純錫層厚度測量
汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層
測量,Ni鍍層用雙鎳/三鎳電位差測量
對無損膜厚計的測量進行交叉檢查
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