光學(xué)元件掃頻測試系統(tǒng)的檢測數(shù)據(jù)分析
掃頻測試系統(tǒng)
結(jié)合可調(diào)諧激光器(TSL系列)、功率計(jì)(MPM)、偏振控制單元(PCU-110)和定制軟件,對研發(fā)和生產(chǎn)線上的IL/WDL/PDL進(jìn)行高效測量和評估。您可以做到。
多站測量
通過將掃描測試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合,可以進(jìn)一步提高檢查和評估的效率。
Thorlabs 的TSL 系列可調(diào)諧激光器采用創(chuàng)新的腔體設(shè)計(jì),可降低光學(xué) ASE 噪聲,實(shí)現(xiàn)非常高的信噪比和高光輸出功率。因此,該系統(tǒng)可以在多個(gè)端口同時(shí)評估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)元件的特性。
下圖分別顯示了 CWDM 濾波器和陷波濾波器(例如 FBG)的測量數(shù)據(jù)。
由于TSL 系列標(biāo)配波長監(jiān)視器,因此可以高精度測量光學(xué)元件。
下圖顯示了乙炔(12C2H2)氣體在測量波長處的吸收線,可以看出以高的測量精度進(jìn)行了測量。
該系統(tǒng)可以測量具有高波長分辨率的 WDL 和 PDL,不僅適用于 WDM 光學(xué)元件,還適用于窄線寬濾波器。
圖中顯示了超高 Q 電容器件的測量,可以看出可以在 0.1 pm 或更小的分辨率下進(jìn)行測量。
在多站測量系統(tǒng)中,可調(diào)諧激光器、偏振控制器和多分支單元充當(dāng)服務(wù)器,光和觸發(fā)信號從中分離并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅由一個(gè)功率計(jì)和一臺(tái) PC 組成。
在測量過程中,服務(wù)器的可調(diào)諧激光連續(xù)掃過規(guī)定范圍。因此,每個(gè)站都可以在任何時(shí)間獨(dú)立于其他站進(jìn)行測量。
這樣,該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時(shí),進(jìn)一步提高檢測和評估的效率。