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日本bunkoukeiki單色儀M50 光學測量儀

訪問次數:716

更新日期:2024-03-24

簡要描述:

日本bunkoukeiki單色儀M50
高分辨率單色儀,焦距為500mm,波長為200nm至25μm。

日本bunkoukeiki單色儀M50 光學測量儀
品牌其他品牌產品種類臺式
數顯功能溫控功能
產地進口

日本bunkoukeiki單色儀M50

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特征

 

  • 光學裝置采用我們原創改良的車爾尼-特納安裝座,因此將多次衍射引起的雜散光降至低。

 

  • 該光學系統像差很小,因此在每個波長上都可以獲得對稱性良好的光譜。

 

  • 衍射光柵更換方便,更換重現性好(±0.1mm以內),因此可作為寬帶光譜儀(單色儀)使用。(200nm 至 25μm)

 

  • 由于可以用氮氣吹掃,因此也可以在紅外區域使用。

 

  • 光學系統采用寬有效面積的衍射光柵,F=5.3時明亮,像差小。

 

  • 機構和操作簡單且堅固,因此耐沖擊和振動,并且狹縫機構幾乎沒有間隙,因此可以進行高精度測量。

 

  • 由于入口狹縫和出口狹縫布置在相對側,因此很容易組合其他光學系統和特殊附件來創建滿足預期用途的光譜系統。

 

  • 通過安裝步進電機波長驅動器(選件),可以通過外部脈沖信號或GP-IB進行控制。

 日本bunkoukeiki單色儀M50

規格(使用1200線/mm衍射光柵時)


 光學系統非對稱改良 Zernii-Turner 安裝系統 
 焦距500毫米
 孔徑比F=5.3
 衍射光柵標線有效面積84×84mm
 光波長范圍200-1400nm  
 機械波長范圍    0-1400nm 
 解決0.04nm(半寬)
 波長掃描法正弦桿機構/波長線性掃描
 波長驅動方式(選項)步進電機驅動
 波長精度±0.1nm(從正向設定)
 波長顯示計數器顯示最小1nm,最小刻度0.05nm
 波長重現性±0.05nm
 雜散光1×10 -4以下( λ 0 ±1 nm ,λ 0 =546.1 nm )
 輸入/輸出狹縫寬度:0至4毫米(雙開口對稱連續變量/最小刻度讀數0.01毫米)
 篩選手動滑動方式(最多可安裝6種)*UV/IR選項


 

 

標準配置

●本體(不含衍射光柵)
●可見光濾光片(L-37?R-64)
●滑動濾光片支架
●滑動高度V型光圈
●使用說明書

衍射光柵陣容

 雕刻線數閃耀波長 倒數方差 

 2400線/毫米

 300納米

 0.74納米/毫米

 1800線/毫米

 500納米

 0.98納米/毫米

 1200線/毫米

 200,300,500,750nm,1.0μm

 1.47納米/毫米

 600線/毫米

 200、300、500、750nm、1.0、1.2、1.6μm

 2.94納米/毫米

 400線/毫米

 400,550,850nm,1.6μm

 4.41納米/毫米

 300線/毫米

 300,500nm,1.0,2.0,3.0,4.0μm

 5.88納米/毫米

 150線/毫米

 800nm、1.25、2.0、3.0、4.0、6.0、8.0μm

 11.76納米/毫米

 120線/毫米

 3.75, 8.3 微米

 14.7納米/毫米

 60線/毫米

 16微米

 29.4納米/毫米


*光柵是可選的。請定一個。 
  如需其他衍射光柵,請聯系我們。
*倒數色散隨波長而變化。




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