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optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO

訪問次數:880

更新日期:2024-03-23

簡要描述:

optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO
實現更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的測量方法(“共聚焦色度模式")外,還安裝了新的“干涉測量模式"。 現在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據所需的測量精度使用,從而擴大了應用范圍。

optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO
品牌其他品牌產品種類臺式
數顯功能溫控功能
產地進口

optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO

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實現更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的
測量方法(“共聚焦色度模式")外,還安裝了新的“干涉測量模式"。 現在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據所需的測量精度使用,從而擴大了應用范圍。

雙模控制器

控制器可用于共聚焦色度模式和干涉測量模式。 與以前的型號一樣,系統配置易于使用且簡單,只需根據所需的測量精度更換筆式模塊即可。

測量原理(干涉測量模式)

干渉測定モード測定原理

光源發出的光會反射在測量對象、參考板和參考平面上。 此時,兩個反射光之間存在光程差。 如圖所示,如果將參考板插入待測物體的前面并盡可能靠近,使光程差進入干涉距離,則兩個反射光之間會發生干涉。 由于這種干涉的光譜強度是由波長調制的,因此可以通過軸向顏色校正光學筆進行測量和分析,以實現更精確的厚度測量。

optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO

控制器CCS 控制器光學筆“DUO"控制器
測量頻率100~2,000點/秒~2,000 點/秒
測量頻率選擇
光源白色LED鹵素
光源強度可 編程 序可 編程 序
自動照度調節功能-
遙控--
大小168×138×120 毫米376×363×114 毫米
重量1.4 千克6 公斤





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