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更新日期:2024-03-22
簡要描述:
日本yamashitadenso高倍率表面缺陷探傷儀YIS 系列的高倍率檢測設備可在螢幕上呈現一個10mm的視場。特別廣泛應用于磊晶處理后的滑線檢查。同時也適用于硬碟或光學拋光元件。
類型 | 無損傷 |
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日本yamashitadenso高倍率表面缺陷探傷儀
即時顯示所有表面狀態。
光學系統對應等級1。
光學系統無須維護。
根據檢測內容,可修正檢測靈敏度。
檢測尺寸 | 從φ100mm至φ300mm |
檢測內容 | 平坦度、凹洞、凸起、刮痕、橘皮等 |
檢測倍率 | 1x / 3x 模式可切換(標準設備) |
檢測靈敏度 | 檢測靈敏度可連續調整 |
使用光源 | 550nm (固定照度之穩定光源) |
鏡頭 | 高解析度CCD鏡頭 |
平臺 | 手動平臺(標準設備) |
鏡面晶圓的表面檢測 |
滑線檢測 |
玻璃基板檢測 |
其他鏡面基板檢測 |
電動馬達檢測平移臺 |
自動判定缺陷影像處理裝置 |
影像列印機 |
搬運裝置 |
※ 可以隨時在敝公司內展示。
※ 可將樣品寄送過來,之后我們再將影像結果回寄。