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日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

訪問次數:1076

更新日期:2024-03-21

簡要描述:

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP
切割樣品表面缺陷的評估和檢查
可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP
類型無損傷

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

切割樣品表面缺陷的評估和檢查
可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。

應用/功能





它可以作為離線表面缺陷校準的專家設備,這是質量評估*的














設備配置




該設備是用戶安裝和連接的設備。
只需將檢測裝置和PC本體安裝在水平工作臺上,用兩條電纜連接檢測裝置和PC
本體即可完成安裝。
















排隊





根據泛光燈的配置,ALTIS 分為三種類型。
請根據檢測對象和檢測缺陷進行選擇,并在購買時注明。

* ALTIS-P 可以定制為魚眼檢測模型作為選項。










各種畫面




檢查畫面











掃描切割樣品以檢測缺陷。您可以在下面的四個屏幕上查看測試結果。





檢查結果畫面(檢測圖顯示)
檢查結果畫面(原圖顯示)









檢查結果畫面(檢測圖顯示)
檢查結果畫面(原圖顯示)





檢查結果屏幕(缺陷列表顯示)
檢查結果屏幕(顯示檢測圖像列表)









檢查結果屏幕(缺陷列表顯示)
檢查結果屏幕(顯示檢測圖像列表)





信息管理畫面(結果數據一覽)










信息管理畫面(結果數據一覽)

您可以使用與檢查相同的屏幕配置來檢查過去執行的檢查的數據。
您可以從過去的檢查結果中選擇任何數據,并將其以 CSV 格式保存
到 USB 存儲器中。






信息管理畫面(檢測圖顯示/原始圖像顯示/缺陷列表顯示/檢測圖像列表顯示)




您可以在與測試時相同的四個屏幕上查看過去的測試結果。





信息管理畫面(檢測圖顯示)信息管理畫面(原圖顯示)信息管理畫面(缺陷列表顯示)信息管理畫面(顯示檢測圖像列表)





濃度測量畫面










濃度測量畫面

您可以調出有缺陷圖像的濃度測量屏幕。在密度測量屏幕上,您可以分析
缺陷的等級和大小。






檢查條件設定畫面










檢查條件設定畫面
多可以注冊100個品種
可以為每種產品類型注冊
各種設置,例如檢測靈敏度和尺寸。
在檢查開始時,
只需選擇注冊品種即可
設置適當的檢查條件 。





波形監視器










波形監視器

可以使用波形監視器功能調整探測器(相機/泛光燈) 。





* 設備啟動時,每個屏幕上顯示的語言可以從日語、韓語和英語中選擇。

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP





規格







解析度寬度方向 15 μm × 長度方向 15 μm
相機CCD線陣傳感器相機(單色)10680像素/80MHz
泛光燈LED 線狀照明(可從以下選擇)
、ALTIS-RP(反射/透射)
、ALTIS-R(反射)
、ALTIS-P(透射)

樣本量尺寸:210mm x 297mm(A4 尺寸)
厚度:0.05mm ~ 1.0mm

檢測判斷明/暗漸變,寬度/長度/面積
移動速度工作臺移動速度 6 m/min。
檢查時間約 15 秒(每張)
檢查范圍拍攝范圍:160 mm x 230 mm (10680 pix. X 15333 pix.)
測量范圍:150 mm x 220 mm (10000 pix. X 14667 pix.)
圖像文件存儲容量:386 MB
圖像文件存儲容量:多800張

電源AC100-220V 50 / 60Hz
擴展總線:PCI、PCI-Express (x4)
硬盤容量:500GB


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