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日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

訪問次數：1076

更新日期：2024-03-21

簡要描述：

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP
切割樣品表面缺陷的評估和檢查
可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP
類型無損傷

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

切割樣品表面缺陷的評估和檢查
可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。

應用/功能





它可以作為離線表面缺陷校準的專家設備，這是質量評估*的
。













設備配置




該設備是用戶安裝和連接的設備。
只需將檢測裝置和PC本體安裝在水平工作臺上，用兩條電纜連接檢測裝置和PC
本體即可完成安裝。
















排隊





根據泛光燈的配置，ALTIS 分為三種類型。
請根據檢測對象和檢測缺陷進行選擇，并在購買時注明。

* ALTIS-P 可以定制為魚眼檢測模型作為選項。










各種畫面




檢查畫面











掃描切割樣品以檢測缺陷。您可以在下面的四個屏幕上查看測試結果。





檢查結果畫面（檢測圖顯示）
檢查結果畫面（原圖顯示）









檢查結果畫面（檢測圖顯示）
檢查結果畫面（原圖顯示）





檢查結果屏幕（缺陷列表顯示）
檢查結果屏幕（顯示檢測圖像列表）









檢查結果屏幕（缺陷列表顯示）
檢查結果屏幕（顯示檢測圖像列表）





信息管理畫面（結果數據一覽）










信息管理畫面（結果數據一覽）

您可以使用與檢查相同的屏幕配置來檢查過去執行的檢查的數據。
您可以從過去的檢查結果中選擇任何數據，并將其以 CSV 格式保存
到 USB 存儲器中。






信息管理畫面（檢測圖顯示/原始圖像顯示/缺陷列表顯示/檢測圖像列表顯示）




您可以在與測試時相同的四個屏幕上查看過去的測試結果。





信息管理畫面（檢測圖顯示）信息管理畫面（原圖顯示）信息管理畫面（缺陷列表顯示）信息管理畫面（顯示檢測圖像列表）





濃度測量畫面










濃度測量畫面

您可以調出有缺陷圖像的濃度測量屏幕。在密度測量屏幕上，您可以分析
缺陷的等級和大小。






檢查條件設定畫面










檢查條件設定畫面
多可以注冊100個品種
。可以為每種產品類型注冊
各種設置，例如檢測靈敏度和尺寸。
在檢查開始時，
只需選擇注冊品種即可
設置適當的檢查條件 。





波形監視器










波形監視器

可以使用波形監視器功能調整探測器（相機/泛光燈） 。





* 設備啟動時，每個屏幕上顯示的語言可以從日語、韓語和英語中選擇。

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP





規格







解析度寬度方向 15 μm × 長度方向 15 μm
相機CCD線陣傳感器相機（單色）10680像素/80MHz
泛光燈LED 線狀照明（可從以下選擇）
、ALTIS-RP（反射/透射）
、ALTIS-R（反射）
、ALTIS-P（透射）
樣本量尺寸：210mm x 297mm（A4 尺寸）
厚度：0.05mm ~ 1.0mm
檢測判斷明/暗漸變，寬度/長度/面積
移動速度工作臺移動速度 6 m/min。
檢查時間約 15 秒（每張）
檢查范圍拍攝范圍：160 mm x 230 mm (10680 pix. X 15333 pix.)
測量范圍：150 mm x 220 mm (10000 pix. X 14667 pix.)
圖像文件存儲容量：386 MB
圖像文件存儲容量：多800張
電源AC100-220V 50 / 60Hz
擴展總線：PCI、PCI-Express (x4)
硬盤容量：500GB


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