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日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E

訪問次數:1161

更新日期:2024-03-20

簡要描述:

日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E
非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型
超高電阻機器分揀機、激光和切割機型修邊機

日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E
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日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E
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  • 噪聲誤差少的高速積分方式(可針對各量程設定積分時間)

  • 參考電阻值 4 位數字設置允許百分比測量 (± 50.00%)

  • 可修剪模式

  • 比較器判斷結果可以是集電極開路輸出、LED顯示和蜂鳴器聲音

  • 可以聯系檢查

  • RS-232C接口標準設備(GP-IB/Centronics輸出可選)

  • 內置換檔電磁閥電源(選項)【DC12V(2A)/24V(1A)/脈沖輸出(2A)】


日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E

測量范圍和基本精度(環境溫度23°C±5°C)
測量范圍測量范圍測量精度
測量電壓 H測量電壓 L
100kΩ5.00kΩ 至 150.00kΩ15V± 0.03% ± 1 位 [讀數的 ± 0.1% ± 1 位]15V± 0.03% ± 1 位 [讀數的 ± 0.1% ± 1 位]
1兆歐50.0kΩ ~ 1500.0kΩ
10MΩ0.500MΩ 至 15.000MΩ
100MΩ5.00MΩ 至 150.00MΩ100V± 0.05% ± 1 位 [讀數的 ± 0.2% ± 1 位]15V± 0.3% ± 1 位 [讀數的 ± 1.2% ± 1 位]
1 GΩ50.0MkΩ 至 1500.0MΩ
10GΩ0.500GΩ 至 15.000GΩ100V± 0.2% ± 1 位 [讀數的 ± 0.5% ± 1 位]15V± 1.2% ± 2 位 [讀數的 ± 1.5% ± 1 位]
100 GΩ5.00GΩ 至 150.00GΩ200V± 0.5% ± 2 位 [讀數的 ± 0.8% ± 2 位]15V± 1.5% ± 2 位 [讀數的 ± 2.0% ± 2 位]
1TΩ50.00GΩ ~ 1500.0GΩ200V± 0.1% ± 4 位 [讀數的 ± 1.5% ± 4 位]無法選擇
測量值顯示范圍% 測量:± 50.00%
歐姆測量:500~15000
測量方法恒壓測量[可通過2端子測量進行接觸檢查]
測量時間(將被測物體連接到測量端子后,經過足夠的穩定時間后輸入開始信號)
【外部啟動積分時間】
[FAST] 1 ~ 29msec.(可設置為1msec.步長)
[SLOW] PLC50Hz: 20.0msec. × (1 ~ 9) 周期(可設置為 1 個周期步長)  180 毫秒。
PLC60Hz:16.7msec. × (1 ~ 9) 周期(可設置為1個周期步長) 150.3msec。
【自由跑】:約3次/秒~20次/秒
比較器設定范圍% 測量:HI 和 LO 均為 ± 50.00% OHM 測量:HI 和 LO 均為 500 至 15000
控制信號測量開始信號:以“L"[0V]→“H"[DC12V]開始
保持信號:斷開和“H"[DC12V]:自由運行,“L"[0V]:保持
判斷結果信號:【LO/GO/HI】,測量結束信號【EOC】集電極開路輸出max40V 100mA
周邊環境溫度:5℃~+40℃,濕度:85%以下
需要電源AC85V-265V,50-60Hz,約20VA
外形尺寸333 (W) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡膠腳墊等突出部分)
重量約2.5kg
標準CE 標志兼容
選項? GP-IB
只能內置這些選項之一。
- 打印機輸出
? 換檔/電磁閥電源
? 打印機電纜




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