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日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D

訪問次數:937

更新日期:2024-03-20

簡要描述:

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D
適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D
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日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D
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適用 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

  • 由于模數隔離提高了抗噪性,因此穩定性高

  • 兼容極小的芯片(低功耗測量)

  • 超高速 0.7msec.(代表值)

  • 由于熱電動勢抵消測量的高精度和高穩定性

  • 通過各量程的測量值積分時間設定功能,實現超高速、高穩定性的測量

  • % 測量:± 99.99% [5mΩ-109MΩ]

  • 測量:0.00mΩ~200.00MΩ

  • 接觸檢查:可選擇測量前/測量后/OFF

  • RS-232C接口標準設備(GP-IB可選)

  • 打印機輸出標準設備(符合 Centronics)

  • 標配設定值傳輸功能:(將相同的設定數據傳輸至另一臺AE-162D并可自動設定)

  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路標準設備


日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D

測量范圍和基本精度(環境溫度23°C±5°C),校準后180天[校準后1年:1.5次]
測量范圍標準值設定范圍測量電流測量精度*
快速地
100mΩ5mΩ-100mΩ100mA± 0.02% ± 2a ± 2d± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100.1mΩ~1Ω100mA±0.02%±a±1d以內± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω1.001Ω~10Ω50mA
100Ω10.01Ω-100Ω10mA±0.02%±1d以內± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ100.1Ω~1kΩ5mA
10kΩ1.001kΩ~10kΩ0.5mA
100kΩ10.01kΩ-100kΩ50μA
1兆歐100.1kΩ~1MΩ5μA± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ1.001MΩ ~ 10MΩ0.5μA±0.03%±1d以內± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ10.01MΩ ~ 109MΩ0.05μA±0.1%±2d以內────
* D = 位數,n = 積分時間(毫秒),% 測量值:α = (100 / 標準設定值 mΩ) x 0.01%,值測量值:α = 0 (add ± 1d)
* 屏蔽狀態下的*精度
測量時間外部啟動自由奔跑
快速地快速地
大約 18 毫秒-400 毫秒。大約 0.7 毫秒-400 毫秒。約30次/秒~
約2次/秒
約60次/秒~
約2次/秒
測量端子開路電壓15V以下
測量結束信號(EOC)脈寬1 至 250 毫秒,可連續設定
測量方法4端測量/2端測量可切換
判斷值設定范圍%測量:±99.99%,值測量:00000-20000
周邊環境溫度:0℃~+50℃,濕度:80%以下
需要電源AC85V~265V,50Hz~60Hz,約50VA
外形尺寸333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡膠腳墊等突出部分)
重量約3.5kg
選項? GP-IB
? 數據傳輸線
? 短接(零歐姆標準電阻)
? 轉換適配器(3P x 2?5P)

* 規格如有改進,恕不另行通知。


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