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日本adcmt光波計 8471 光學測量儀

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更新日期:2024-03-20

簡要描述:

日本adcmt光波計 8471
8471 使用 He-Ne 激光器作為參考波長,并且是邁克爾遜干涉儀型光波長計,因此可以進行高精度測量。因此,可以以高分辨率和高精度測量DWDM的LD發射中心頻率。

日本adcmt光波計 8471 光學測量儀
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數顯功能溫控功能
產地進口

日本adcmt光波計 8471

8471 使用 He-Ne 激光器作為參考波長,并且是邁克爾遜干涉儀型光波長計,因此可以進行高精度測量。因此,可以以高分辨率和高精度測量DWDM的LD發射中心頻率。
測量速度高達10次/秒,非常適合調整振蕩波長。
此外,偏差顯示功能能夠以高分辨率和高精度測量短時間波長變化。因此,它可以用作光譜儀和光譜分析儀的校準波長標準。
此外,還可實現LD的波長溫度特性、波長電流特性等測量自動化。

  • 測量波長范圍:630 nm 至 1650 nm(182 THz 至 476 THz)

  • 可按波長和頻率顯示

  • 高速測量:10次/秒

  • 感光度:-35 dBm (1200 nm-1600 nm)

  • 可顯示值、小值、偏差

  • 多可保存 10,000 條數據

  • 平均測量可達 100 次

  • 配備USB接口和GPIB

日本adcmt光波計 8471

高分辨率/高精度測量
干涉儀方法可實現 0.001 nm (1 pm) 的高分辨率測量。此外,通過平均 10 次或更多,可以以 0.0001 nm (0.1 pm) 的分辨率進行測量。此外,由于使用 He-Ne 激光作為參考波長,因此可實現高達 2 ppm 的高精度測量。此外,He-Ne 激光器以高度穩定的波長振蕩,確保長期高精度測量 2 ppm,無需校準。

規格


測量波長范圍

630 至 1650 nm(182 至 476 THz)

準確性

± 2 ppm ± 1 pm(在激光測量模式下)

顯示分辨率

1 納米至 0.0001 納米

顯示單元

nm(真空,標準空氣),太赫茲

靈敏度

-15 dBm、-20 dBm、-25 dBm、-35 dBm

平均測量

設定次數:2~100次

展示

顯示測量波長和測量過程中的和小波長

界面

GPIB、USB

記憶

10,000 條數據


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