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日本ecginc絕緣檢測儀DWX系列

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更新日期:2024-03-18

簡要描述:

日本ecginc絕緣檢測儀DWX系列
超低感線圈?高速檢測性能!
1μH的線圈10msec內可完成檢測!
對貼片功率電感施加脈沖電壓,檢測分析線圈的絕緣性能(浪涌測試)。

日本ecginc絕緣檢測儀DWX系列

日本ecginc絕緣檢測儀DWX系列

 

超低感線圈?高速檢測性能!
1μH的線圈10msec內可完成檢測!

 

對貼片功率電感施加脈沖電壓,檢測分析線圈的絕緣性能(浪涌測試)。

特點

采用4端子檢測回路,實現對超低電感線圈的高電壓檢測。
z小1μH的線圈,可以施加z大1000V(畫面顯示値)的電壓。
無判定模式,1脈沖的電壓施加條件下,實現z短10msec的高速測試,適合量產使用。
貼片功率電感之外,也適用于扼流線圈,電機線圈及卷數較少的線圈。
z適應于超低線圈的絕緣檢測(浪涌測試)。

日本ecginc絕緣檢測儀DWX系列

性能

 

DWX-01LI

DWX-300LI

檢測電壓范圍

3V~1200V z大7.2mJ(焦耳)

3V~300V z大20mJ(焦耳)

電壓設定精度

1V step

0.1V step

電壓檢測精度

1.2V

0.3V

檢測電感強度

0.1μH~10mH

z小檢測時間
(1脈沖?無畫面顯示)

高速檢測模式
有判定 18msec
無判定 10msec

 

檢測模式

有畫面顯示 108msec

無畫面顯示 53msec

采樣速度

200MHz相當

采樣顯示 (WIDTH)

‐5,‐4,‐3,‐2,‐1,0,1,2,3,4,5 11種顯示模式 (0時DW系列共通)

檢測輸入回路 (阻抗)

分壓回路(5MΩ)

畫面顯示
波形顯示范圍

640x480(VGA),8.4英寸TFT彩色液晶屏,4色顯示 512x256

判定方法

與主波形的比較方式
波形面積?波形面積差?z高電壓值

破壞性電壓評價檢測(BDV)

手動破壞性電壓評價檢測(Manual BDV)

檢測回路

4端子

主波形儲存容量 主機
外部擴張

196機種  外部儲存卡700機種

附加功能

RS-232C?I/O?檢測結果Log保存 檢測結果畫面直接保存

外部I/O控制信號

施壓同步(Trig)?施壓終了(Index)
對應半導體高速檢測裝置

附屬品

電源線(3P適配器)
外部儲存卡 1個,I/O端口1個
說明書?檢測報告 1份
4端子檢測線1.5m

使用條件

0℃~40℃電源電壓:100V/115V/220V/240V ±5%

外型尺寸
(不包含提手)重量

345(W)x185(H)x360(D) 約18Kg

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