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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

訪問次數:943

更新日期:2024-03-18

簡要描述:

日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D
適用于 B,C,D,F,G,J,K類,切屑,熔體,徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D
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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

適用?于 B,C,D,F,G,J,K類,切屑,熔體,徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

  • 超高精度:分辨率10ppm,基本精度±0.005%

  • 通過靜態功率抵消測量實現高精度和高穩定性

  • 由于從模擬到數字的隔離而提高了抗噪聲能力,因此具有很高的穩定性

  • 通過對每個范圍進行測量值積分時間設置功能,實現超高速和高穩定性測量

  • 值測量:0.00mΩ?125.00MΩ
    %測量:5mΩ?109mΩ[±10.000%/-99.99?+ 25.00%]

  • 接觸檢查:測量前/測量后/ OFF

  • RS-232C接口標準設備(GP-IB是可選的)

  • 打印機輸出標準設備(與Centronics兼容)

  • 設置值傳送功能作為標準設備:(相同的設置數據可以傳送到另一臺AE-163D并自動設置)

  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設備

  • 配備測量探頭自動清潔電路

校準后90天[校準后1年:兩倍]的測量范圍和基本精度(環境溫度23°C±5°C)

日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D

測量范圍標準值設定范圍實測電流測量精度*
慢[高分辨率]快速[LO-Resco。]快速[Lo-Resco。]
100毫歐5mΩ-100mΩ180毫安±0.01%±α±10d以內在±0.02%±α±2d之內≤±0.03%±2α±3d±[2 /(1 + n)] d
100.1mΩ?1Ω180毫安在±0.005%±α±3d之內±0.02%±α±1d以內≤±0.02%±α±2d±[2 /(1 + n)] d
10Ω1.001Ω?10Ω90毫安
100Ω10.01Ω-100Ω18毫安±0.005%±1d以內±0.02%±1d以內在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之內
1kΩ100.1Ω?1kΩ9毫安
10kΩ的1.001kΩ?10kΩ0.9毫安
100kΩ的10.01kΩ-100kΩ90微安
1兆歐100.1kΩ?1MΩ9微安±0.007%±1d以內在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之內
10兆歐1.001MΩ?10MΩ0.9微安±0.02%±10d以內±0.03%±1d以內在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之內
100兆歐10.01MΩ-100MΩ0.09微安±0.1%±20d以內±0.1%±2d以內---

* D =數字,n =積分時間(毫秒),使用Lo-Reso測量值
%時測量:α=(100 /標準設定值mΩ)x 0.01%,測量值時: α= 0(加±1d)
**屏蔽狀態下的精度

測量時間外部啟動自由奔跑
快速快速
大約24毫秒-400毫秒大約11毫秒-400毫秒約5次/秒?
約2次/秒
約10次/秒?
約2次/秒
測量端子開路電壓15V以下
測量結束信號(EOC)脈沖寬度1到250毫秒,并且可以連續設置
測量方式4端子測量/ 2端子測量可切換
判斷值設定范圍測量%:±10.000%/-99.99%?+ 25.00%
值測量:00000-12500
周邊環境溫度:0°C至+ 50°C,濕度:80%以下
需要電源AC85V?265V,50Hz?60Hz,約50VA
外形尺寸333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡膠腳等突起)
重量約3kg
選項? GP-IB
?數據傳輸線
?短接(零歐姆標準電阻)
? 3P x 2→5P轉換適配器(AEA-35)

*規格如有變更,恕不另行通知。


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