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日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216

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更新日期:2024-03-17

簡要描述:

日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
消除測量者的偏差舒適,準確地測量1μm或更小的超薄膜

日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
類型數字式測量范圍1

日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216

消除測量者的偏差舒適,準確地測量1μm或更小的超薄膜

* 1線性度是
  顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。  位移量
 為±0.2%
/ 100μm±0.2μm
  位移量/ 500μm±1μm
  位移量/ 1000μm±2μm
  (測量誤差因位移量而異)

  • 重復性/ 0.05μm
    (使用升降器重復上下觸控筆)
  • 測量分辨率/ 0.01μm
  • 線性度/±0.2%* 1
  • 可以改變測量壓力(z小測量壓力0.14N)
  • 米/ R30超硬球面
  • 測量范圍/ 200μm * 2
  • 測量架/測量表面Φ50陶瓷制成
  • 輸出/模擬和RS232C
  • 電源/ AC100V
  • 選件/
    ?軟件?數據打印機?更換筆
    ·真空臺·外部置零開         
  • * 2根據被測物體的材質,測量范圍可能會改變。

*注意* HKT-1240已因放大器單元的停產而停產。HKT-1216將替代HKT-1240。

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