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日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀

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更新日期:2024-03-17

簡要描述:

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
這是一種可通過陽離子評估亞納米級尺寸(原子水平)微小缺陷和空洞的方法。
陽離子壽命測量方法是一種能夠使用陽離子評估亞納米級(原子級)微小缺陷和空隙的方法。

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀
類型無損傷

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA

產品概要

  • 這是一種可通過陽離子評估亞納米級尺寸(原子水平)微小缺陷和空洞的方法。
  • 陽離子壽命測量方法是一種能夠使用陽離子評估亞納米級(原子級)微小缺陷和空隙的方法。?

該設備的應用示例

  •  噴丸質量檢查
  • 金屬疲勞損傷評估

適用對象

  •  各種金屬,例如鋼,鋁和鈦
  •  非晶態(tài)材料,例如玻璃和聚合物
  •  測量深度距表面(鋼鐵材料)約50μm

*與工業(yè)技術研究院共同開發(fā)?

正電子壽命法原理

圖1是從正電子進入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測量方法是一種精que地測量在產生陽離子時發(fā)射的γ射線與在一對電子消失時產生的γ射線之間的時間差(正電子壽命)的技術。
隨著材料中孔隙缺陷的增多和位錯密度的提高,正電子壽命會增加。

人性化的測量系統(tǒng)

  • 反巧合(AC)系統(tǒng)

我們已經開發(fā)了一種反巧合(AC)系統(tǒng),該系統(tǒng)可區(qū)分發(fā)射到樣品另一側的正電子信號。1)  (圖1)
通過采用交流系統(tǒng),可以在不將輻射源與測量樣品夾在中間的情況下測量正電子壽命。因此,即使只有一個測試件,也可以進行測量。此外,它可以安全使用,而無需麻煩地處理輻射源。
1)  M.Yawakiki等人JJAP 50(2011)086301

  • 自動設置系統(tǒng)自動
    配置程序中測量所需的設置。設置完成后,可以立即開始測量,并且可以自動執(zhí)行粗略分析。?
  • 請使用低于規(guī)定值的密封放射源。請使用低于
    放射線危害防止法規(guī)定的規(guī)定值的放射源。該設備可以在一般實驗室中使用,不需要資格認證。

日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA

通用規(guī)格

正電子源Na-22(?1 MBq)
計數率約100 cps
測量范圍40 ns(與金屬,半導體和聚合物兼容)
配飾? HDO4024(Teledyne LeCroy制造的DSO),
(HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm])
·程序
·筆記本電腦等。

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